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以下內(nèi)容僅供參考:電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)在稀土成分檢測中發(fā)揮著核心作用,其多元素同時檢測能力、高靈敏度及寬線性范圍的技術(shù)優(yōu)勢,使其成為稀土礦產(chǎn)勘探、材料分析、科研研究等領(lǐng)域的分析工具。稀土元素(如La、Ce、Pr、Nd等17種鑭系元素及Sc、Y)的檢測對儀器分辨率和校正技術(shù)要求較高,以下結(jié)合技術(shù)原理與應(yīng)用場景,詳細(xì)介紹ICP-OES在稀土成分檢測中的實踐:一、稀土礦石品位分析與勘探技術(shù)原理:稀土礦石經(jīng)酸消解或堿熔后,稀土元素在等離子體中原子化并激發(fā)發(fā)射特...
6-3
鋼材成分檢測儀采用X射線熒光光譜(XRF)等技術(shù),具備從硫S到鈾U的元素測試范圍,檢測限高達2PPM。儀器裝備有高性能探測器,如電制冷Si-PIN探測器,大幅提升檢出限和檢測精度。此外,它還具有多種分析模式和濾波器選擇,適應(yīng)不同元素分析需求。正確選擇適合的鋼材成分檢測儀對于確保鋼材質(zhì)量和生產(chǎn)效率至關(guān)重要,以下是選購時需要考慮的關(guān)鍵要點:1、檢測范圍:首先需要確定所需的檢測范圍,包括所需檢測的元素種類和濃度范圍。不同的鋼材應(yīng)用可能需要不同的元素檢測范圍,因此確保所選檢測儀器能夠...
5-22
ICP電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀(ICP-AES)在稀土元素成分含量檢測方面具有重要的應(yīng)用價值。以下是對其應(yīng)用的詳細(xì)介紹:一、ICP-AES的工作原理ICP-AES的工作原理主要基于電感耦合等離子體(ICP)作為激發(fā)光源。ICP是由高頻電流經(jīng)感應(yīng)線圈產(chǎn)生高頻電磁場,使工作氣體(如氬氣)電離形成火焰狀放電高溫等離子體。稀土元素樣品溶液通過進樣系統(tǒng)進入ICP中,在高溫環(huán)境下被蒸發(fā)、原子化、激發(fā)和電離,從而發(fā)射出特定波長的光譜。這些光譜經(jīng)過分光系統(tǒng)被色散成不同波長的單色光,并由...
5-20
X射線熒光光譜儀(XRF)是一種利用X射線激發(fā)樣品中的元素并測量其熒光光譜的精密儀器。該技術(shù)基于莫斯萊定律和量子理論,通過測量熒光X射線的波長或能量來確定元素的種類,并通過熒光X射線的強度來評估元素的含量。X射線熒光光譜儀的技術(shù)原理主要涉及到X射線的產(chǎn)生、激發(fā)和檢測三個過程。首先,X射線管產(chǎn)生入射X射線,激發(fā)被測樣品中的元素,產(chǎn)生X熒光(二次X射線)。然后,探測器對這些X熒光進行檢測,并測量其能量和數(shù)量。最后,儀器軟件將收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。在前沿應(yīng)用...
5-16
膜厚檢測儀能夠準(zhǔn)確測量材料表面薄膜的厚度,為半導(dǎo)體加工、金屬材料檢測以及涂層質(zhì)量監(jiān)控等提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。通過測量光波在薄膜表面反射和透射后的相位差,該儀器能夠迅速、精確地計算出薄膜的厚度,并可根據(jù)需要分析薄膜的光學(xué)性質(zhì)。膜厚檢測儀由多個部件構(gòu)成,每個部件都發(fā)揮著重要的功能,以下是各組成部件及其功能特點:1、光源系統(tǒng):光源系統(tǒng)是膜厚檢測儀中至關(guān)重要的組成部分,通常使用白光或激光作為光源。系統(tǒng)產(chǎn)生高強度的光束,照射到待測樣品表面,并與樣品反射的光進行干涉。2、干涉系統(tǒng):干涉系統(tǒng)接...
5-1
金屬成分測試儀通過分析金屬樣品中的元素成分,可以確定其質(zhì)量、強度和其他關(guān)鍵特性,能夠快速、準(zhǔn)確地進行元素分析,為生產(chǎn)過程提供重要數(shù)據(jù)支持,有助于提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量,廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、材料科學(xué)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域,幫助用戶確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)要求。為了確保金屬成分測試儀準(zhǔn)確性和可靠性,定期維護保養(yǎng)是不可少的。下面將介紹詳細(xì)的定期維護保養(yǎng)方法:1、定期清潔是保持儀器正常運行的關(guān)鍵。使用干凈、柔軟的布或棉紗蘸取少量酒精擦拭外殼表面,確保沒有灰塵或污垢影響測試結(jié)果。同時,注意不要讓水或其...
4-23
X射線熒光膜厚儀是一種基于X射線熒光原理的高精度測量儀器,廣泛應(yīng)用于薄膜厚度測量領(lǐng)域。其技術(shù)原理在于利用X射線源發(fā)射的X射線穿透待測樣品,激發(fā)樣品中的元素產(chǎn)生特征X射線熒光。通過檢測這些特征X射線的強度和能量,進而確定樣品中元素的種類和含量,從而推算出薄膜的厚度。X射線熒光膜厚儀的精準(zhǔn)測量應(yīng)用主要體現(xiàn)在多個方面。首先,在微電子行業(yè)中,薄膜的厚度對于器件的性能和穩(wěn)定性具有重要影響。X射線熒光膜厚儀能夠?qū)崿F(xiàn)對薄膜厚度的非破壞性、快速且精確的測量,為微電子器件的生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供了...
4-19
銅合金分析儀是一種專門用于檢測和分析銅合金成分的儀器,通過使用新技術(shù)和方法,能夠快速、準(zhǔn)確地確定銅合金中各種元素的含量,包括銅、鋅、鎳等。該儀器在金屬加工、質(zhì)量控制和研究領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用,幫助生產(chǎn)商確保產(chǎn)品質(zhì)量,優(yōu)化生產(chǎn)工藝,并滿足客戶需求。銅合金分析儀各組成部件在確保準(zhǔn)確性和效率方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用,以下是對各組成部件功能特點的詳細(xì)介紹:1、激發(fā)源:功能:激發(fā)源通常是X射線發(fā)生器,用于產(chǎn)生高能量的X射線束。特點:具有穩(wěn)定的輸出能量和頻率,能夠準(zhǔn)確激發(fā)樣品并產(chǎn)生準(zhǔn)確的分析結(jié)...
4-1
元素含量檢測儀是一種用于分析樣品中元素含量的儀器,通過不同的技術(shù),如原子吸收光譜、質(zhì)譜等,可以快速、準(zhǔn)確地測量樣品中各種元素的含量。該儀器在化學(xué)、環(huán)境、食品、藥品等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用,幫助科研人員、工程師和質(zhì)量控制人員進行元素分析和質(zhì)量檢測。元素含量檢測儀在長時間使用過程中,會遇到各種故障。了解這些故障并學(xué)會相應(yīng)的解決方法對于確保儀器的正常運行至關(guān)重要。1、顯示屏出現(xiàn)問題。如果顯示屏出現(xiàn)模糊、閃爍或者不顯示的情況,首先應(yīng)該檢查電源線是否連接良好,確保電源供應(yīng)正常。如果電源沒有問題,...
3-22
X射線熒光膜厚儀作為一種高精度測量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域。為了確保其正常運行和測量結(jié)果的準(zhǔn)確性,正確的操作技巧和維護保養(yǎng)至關(guān)重要。在操作技巧方面,首先,使用前應(yīng)仔細(xì)閱讀儀器說明書,了解儀器的基本結(jié)構(gòu)、功能及操作要求。在測量過程中,應(yīng)確保樣品表面平整、無雜質(zhì),并選擇合適的測量模式和參數(shù)。同時,避免在強磁場或強電場環(huán)境下使用儀器,以免干擾測量結(jié)果。此外,測量結(jié)束后,應(yīng)及時關(guān)閉儀器并清理樣品臺,保持儀器的整潔。在維護保養(yǎng)方面,定期對儀器進行清潔和校準(zhǔn)是關(guān)鍵。使用柔...
3-11
硅砂,也被稱為二氧化硅或石英砂,是一種堅硬、耐磨、化學(xué)性能穩(wěn)定的硅酸鹽礦物。它的主要礦物成分是SiO2,顏色為乳白色或無色半透明狀,硬度為7,性脆無解理,具有貝殼狀斷口和油脂光澤,相對密度為2.65。硅砂的粒徑范圍通常在0.020mm-3.350mm之間,是一種耐火顆粒物。根據(jù)開采和加工方法的不同,硅砂可以分為人工硅砂及水洗砂、擦洗砂、精選(浮選)砂等天然硅砂。硅砂的純度可以根據(jù)其二氧化硅的含量來劃分,普通硅砂中二氧化硅的含量在90%至99%之間,精制硅砂中二氧化硅的含量在9...
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